塞貝克系數(shù)測量儀是一種用于物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，是根據地質、礦業(yè)、物探、半導體科研院所的需求而設計的新型自動化數(shù)字化熱電系數(shù)測量儀，用于測量具有類似半導體特性的各種礦物，如黃鐵礦等及一般半導體材料的熱電系數(shù)。在某些礦物和半導體材料的研究中測取熱電系數(shù)具有重要的用途和意義。塞貝克系數(shù)測定儀適合于礦業(yè)、地質、物探、半導體等有關科研院所和高等學校使用。

 

工作原理：

 

Seebeck效應指的是熱能轉換為電能的現(xiàn)象，是熱電材料應用的理論基礎，它被稱為熱電d一效應。Seebeck系數(shù)通常也稱為溫差電動勢率，根據Seebeck系數(shù)的定義，被測材料和參考材料之間滿足如下關系：

 

式中：S——熱電材料的Seebeck系數(shù)；

ΔT——溫差；

 

Vsr——溫差ΔT下產生的Seebeck電壓。

 

根據式（1），通常將Seebeck系數(shù)的測量裝置設計成圖 1所示的形式。在實際測試中，通常在上下電極中的一端安裝加熱或制冷裝置使樣品兩端產生溫差ΔT′，然后由熱電偶測出溫差ΔT和電壓Vsr。
 

德國林賽斯 塞貝克系數(shù)/電阻測試儀 LSR-3可以同時測量塞貝克系數(shù)和電阻（電阻率），可以測量圓柱形或棱柱形的樣品，長度6—23毫米，利用*的測量適配器可以測量線狀和薄片狀樣品，通過三種可更換的爐體，測量溫度范圍可以覆蓋-100到1500 ℃。